프리즘 셀 제조용 X선 표면 밀도 측정기

Ⅰ . 측정 원리 및 응용 특성

측정 방법은 광선 투과 흡수 측정이며, 측정되는 직접적인 물리량은 면적 밀도(그램 중량)입니다. X선이 재료를 투과하면 재료에 의해 반사, 산란 또는 흡수되어 광선 강도가 다소 감쇠되는데, 이 감쇠는 투과된 재료의 표면 밀도와 양의 상관관계를 갖습니다.

재료의 체적 밀도가 고정되거나 일정한 경우, 재료의 두께는 체적 밀도 변환(면적 밀도 = 밀도 * 두께)을 통해 측정할 수 있습니다.

X선 두께 측정기는 저에너지 방사선 장치이며, 전원 공급 장치를 통해 방사선을 켜고 끌 수 있습니다. 일반적으로 특별한 보호 장비는 필요하지 않습니다.

X선 두께 측정기는 일반적으로 O형 스캐닝 프레임을 채택합니다.

X선 두께 측정기는 레이저 변위 센서와 결합하고 C형 대리석 스캐닝 프레임을 사용하여 X선 레이저 두께 측정기를 도출합니다. 이를 통해 표면 밀도와 두께를 동시에 측정할 수 있으며 리튬 코팅의 표면 밀도 및 선단 및 후단 박막화 측정에 사용할 수 있습니다.

Ⅱ . 우수한 성능의 X선 측정 센서

1) X선 측정 센서는 20년 이상의 경험을 가진 핵탐지 전문가가 구축한 이 기계의 핵심 기술로, 중국에서는 보기 드문 높은 반복성과 장기 안정성을 갖추고 있습니다.

2) X선 송신기는 이중 폐쇄 루프 회로 제어 시스템을 채택하여 방사선 강도의 장기 안정성과 측정의 높은 반복성을 보장합니다.

3) X선 검출기는 신호 대 잡음비가 높은 독일의 프리앰프 회로 기술을 수입하였습니다.

4) X선 송신기는 특수 슬릿선 콜리메이션 채널과 소점 설계를 채택하고, 높은 신호 대 잡음비 검출기와 소프트웨어 알고리즘을 결합하여 더 높은 공간 분해능 정확도와 프린지 결함 인식을 제공할 수 있습니다.

실제 측정 요구 사항에 따라 X선 송신기의 출력 스팟은 5 * 5mm Φ 9mm 및 2 * 12mm로 설계되었습니다.

그 중 2 * 12mm 광선 스팟은 리튬 코팅 가장자리 박막화 영역의 크기 측정을 실현할 수 있는 독보적인 장점 기술입니다.

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Ⅲ . X선 표면 밀도계/두께 측정기의 기술적 특징 및 강력한 기능 모듈

1) 스캐닝 측정, 고정 소수점 측정, 순환 고정 소수점 측정, 스캐닝과 고정 소수점 모드 사이의 임의 전환을 실현할 수 있습니다.

2) 단일/다중 등고선, 구역선, 추세선 및 기타 다양한 측정 곡선이 실시간으로 표시되고, 다양한 품질 데이터가 표시됩니다.

3) 데이터베이스 기반의 방대한 총 가치 데이터를 엑셀 포맷으로 저장하고, 과거 데이터를 쿼리하여 추적하고, 과거 곡선을 다시 표시합니다.

4) 전문적인 SPC 통계 분석, 자동으로 고품질 볼륨 보고서 생성, 고객 요구 사항에 맞게 사용자 정의 가능.

5) 다중 공정 제어 솔루션, 실시간 공정 모니터링, 5라인 품질 관리, 다중 조기 경고 및 알람, 초과 한도 표시.

6) 폐쇄 루프 자동 제어를 지원하고, 고객 MES 시스템과 도킹할 수 있으며, 다중 랙 지점 간 추적 측정을 실현할 수 있습니다.

7) 고속 측정 응답을 보장하기 위해 데이터 수집 카드와 제어 보드 카드, 실시간 통신 시스템 및 CANOPEN 버스 통신 전송에 대한 자체 연구 개발을 실시했습니다.

8) 사용성이 더 좋고 인간과 컴퓨터가 친화적인 인터페이스, 버튼 하나로 지능적으로 조작할 수 있습니다.

4. 성능 매개변수